Ungerade Markierungen auf Flash-ICs - Sind diese Werksabfälle?

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Ich habe kürzlich eine wirklich, wirklich billige SSD (25,99 USD) gekauft und aus Neugier das Gehäuse aufgerissen.

Die Flash-Chips haben Balken über den Teilenummern, was ich noch nie gesehen habe.

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Ist dies eine Standardmethode, um Chips als Ausschuss zu kennzeichnen?

Bearbeiten: Ich habe zwei davon gekauft, um sie in RAID-1 einzusetzen, weil ich ihnen nicht zu sehr vertraue, und das andere hat identische Markierungen:

Bildbeschreibung hier eingeben

Dieser verwendet Micron Flash, obwohl die Kennzeichnung identisch ist.

Zum jetzigen Zeitpunkt kann ich nur denken, dass es ein wirklich, wirklich, wirklich ineffektiver Versuch sein muss, die Flash-Teilenummern zu verbergen?

Die Mikron-Teile sind MT29F128G08CBECBH6-12:C16 GByte groß, es stehen also 64 GB Rohspeicher zur Verfügung.

Die anderen Teile sind mit der Marke "Spectek" versehen , anscheinend eine Mikron-Tochter, von der ich noch nie zuvor gehört hatte. Sie scheinen zu sein FBNL95B71KDBABH6-10AL, das sind auch 16 GByte Teile.

Bearbeiten:

Das erste der Laufwerke ist sudo badblocks -b 4096 -c 4096 -s -w /dev/sdmfehlerfrei verlaufen, die Kapazität ist also offenbar real, und sie eignen sich für mindestens einen Schreibvorgang.

Bearbeiten bearbeiten:

Korrektur: Entweder badblocksmein el-cheapo USB-SATA - Adapter abstürzt, oder sie tun einige Probleme haben.

Bearbeiten Bearbeiten Bearbeiten:

Ok, das Laufen badblocksauf dem Laufwerk scheint die Festplatte schrecklich verwirrt zu haben. Hier ist der SMART-Bericht:

durr@mainnas:/media/Storage/badblocks⟫ sudo smartctl /dev/sdm -a
smartctl 6.2 2013-07-26 r3841 [x86_64-linux-3.13.0-79-generic] (local build)
Copyright (C) 2002-13, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org

=== START OF INFORMATION SECTION ===
Device Model:     KingDian S200 60GB
Serial Number:    2016022700031
LU WWN Device Id: 0 000000 000000000
Firmware Version: 20150818
User Capacity:    60,022,480,896 bytes [60.0 GB]
Sector Size:      512 bytes logical/physical
Rotation Rate:    Solid State Device
Device is:        Not in smartctl database [for details use: -P showall]
ATA Version is:   ACS-2 (minor revision not indicated)
SATA Version is:  SATA 3.1, 6.0 Gb/s (current: 1.5 Gb/s)
Local Time is:    Sun Mar 20 19:15:31 2016 PDT
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled

=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED

General SMART Values:
Offline data collection status:  (0x02) Offline data collection activity
                                        was completed without error.
                                        Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status:      (   0) The previous self-test routine completed
                                        without error or no self-test has ever
                                        been run.
Total time to complete Offline
data collection:                (    0) seconds.
Offline data collection
capabilities:                    (0x11) SMART execute Offline immediate.
                                        No Auto Offline data collection support.
                                        Suspend Offline collection upon new
                                        command.
                                        No Offline surface scan supported.
                                        Self-test supported.
                                        No Conveyance Self-test supported.
                                        No Selective Self-test supported.
SMART capabilities:            (0x0002) Does not save SMART data before
                                        entering power-saving mode.
                                        Supports SMART auto save timer.
Error logging capability:        (0x01) Error logging supported.
                                        General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time:        (   2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time:        (  10) minutes.

SMART Attributes Data Structure revision number: 1
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAG     VALUE WORST THRESH TYPE      UPDATED  WHEN_FAILED RAW_VALUE
  1 Raw_Read_Error_Rate     0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       0
  5 Reallocated_Sector_Ct   0x0002   100   100   050    Old_age   Always       -       0
  9 Power_On_Hours          0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       2
 12 Power_Cycle_Count       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       6
160 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       0
161 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       125
162 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       1
163 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       20
164 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       4943
165 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       12
166 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       1
167 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       4
192 Power-Off_Retract_Count 0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       6
194 Temperature_Celsius     0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       40
195 Hardware_ECC_Recovered  0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       0
196 Reallocated_Event_Count 0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       0
199 UDMA_CRC_Error_Count    0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       6
241 Total_LBAs_Written      0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       2857
242 Total_LBAs_Read         0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       72
245 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       9517

Warning! SMART ATA Error Log Structure error: invalid SMART checksum.
SMART Error Log Version: 1
Warning: ATA error count 0 inconsistent with error log pointer 1

ATA Error Count: 0
        CR = Command Register [HEX]
        FR = Features Register [HEX]
        SC = Sector Count Register [HEX]
        SN = Sector Number Register [HEX]
        CL = Cylinder Low Register [HEX]
        CH = Cylinder High Register [HEX]
        DH = Device/Head Register [HEX]
        DC = Device Command Register [HEX]
        ER = Error register [HEX]
        ST = Status register [HEX]
Powered_Up_Time is measured from power on, and printed as
DDd+hh:mm:SS.sss where DD=days, hh=hours, mm=minutes,
SS=sec, and sss=millisec. It "wraps" after 49.710 days.

Error 0 occurred at disk power-on lifetime: 21930 hours (913 days + 18 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was in an unknown state.

  After command completion occurred, registers were:
  ER ST SC SN CL CH DH
  -- -- -- -- -- -- --
  00 03 ff 93 01 00 ce

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FR SC SN CL CH DH DC   Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- -- -- -- -- -- -- --  ----------------  --------------------
  03 00 00 00 00 00 b9 00      00:00:00.288  CFA REQUEST EXTENDED ERROR
  00 00 00 00 00 00 01 00      00:00:00.000  NOP [Abort queued commands]
  00 00 b3 01 18 00 08 00      00:00:00.000  NOP [Abort queued commands]
  00 02 01 00 00 00 00 4c      16:05:33.861  NOP [Reserved subcommand] [OBS-ACS-2]
  03 00 07 00 00 00 ce 00      00:18:34.183  CFA REQUEST EXTENDED ERROR

Error -4 occurred at disk power-on lifetime: 0 hours (0 days + 0 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.

  After command completion occurred, registers were:
  ER ST SC SN CL CH DH
  -- -- -- -- -- -- --
  04 51 f0 d0 3e 44 a0  Error: ABRT

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FR SC SN CL CH DH DC   Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- -- -- -- -- -- -- --  ----------------  --------------------
  b0 d0 01 00 4f c2 a0 00      00:00:00.000  SMART READ DATA
  b0 d5 01 01 4f c2 a0 00      00:00:00.000  SMART READ LOG
  b0 d5 01 00 4f c2 a0 00      00:00:00.000  SMART READ LOG
  b0 da 00 00 4f c2 a0 00      00:00:00.000  SMART RETURN STATUS
  b0 d1 01 01 4f c2 a0 00      00:00:00.000  SMART READ ATTRIBUTE THRESHOLDS [OBS-4]

Warning! SMART Self-Test Log Structure error: invalid SMART checksum.
SMART Self-test log structure revision number 1
Num  Test_Description    Status                  Remaining  LifeTime(hours)  LBA_of_first_error
# 1  Extended offline    Completed without error       00%         0         -

Selective Self-tests/Logging not supported

Zu diesem Zeitpunkt hatte ich die Fahrt ungefähr eine Woche. Ich habe keine Ahnung, wie es vor 918 Tagen Fehler hatte.

Zusätzlich: Error -4. Ja, ich glaube nicht, dass SMART-Protokolle negative Zahlen haben sollen. Hoppla?

Wenn ich zu diesem Zeitpunkt das Laufwerk mit Badblocks erneut teste, fällt das Gerät tatsächlich aus und stellt die Verbindung wieder her.

durr@mainnas:/media/Storage/badblocks⟫ dmesg | tail -n 50
[2048975.197941] sd 12:0:0:0: [sdm] Mode Sense: 28 00 00 00
[2048975.198218] sd 12:0:0:0: [sdm] No Caching mode page found
[2048975.198728] sd 12:0:0:0: [sdm] Assuming drive cache: write through
[2048975.200188] sd 12:0:0:0: [sdm] No Caching mode page found
[2048975.200633] sd 12:0:0:0: [sdm] Assuming drive cache: write through
[2048975.214949]  sdm: unknown partition table
[2048975.215831] sd 12:0:0:0: [sdm] No Caching mode page found
[2048975.216456] sd 12:0:0:0: [sdm] Assuming drive cache: write through
[2048975.216915] sd 12:0:0:0: [sdm] Attached SCSI disk
[2049068.016741] usb 3-5: reset high-speed USB device number 16 using xhci_hcd
[2049068.036966] usb 3-5: device firmware changed
[2049068.037001] usb 3-5: USB disconnect, device number 16
[2049068.040592] scsi 12:0:0:0: rejecting I/O to offline device
[2049068.041057] scsi 12:0:0:0: [sdm] killing request
[2049068.041063] scsi 12:0:0:0: [sdm]
[2049068.041064] Result: hostbyte=DID_NO_CONNECT driverbyte=DRIVER_OK
[2049068.041065] scsi 12:0:0:0: [sdm] CDB:
[2049068.041066] Read(10): 28 00 00 44 3e d0 00 00 f0 00
[2049068.041070] end_request: I/O error, dev sdm, sector 4472528
[2049068.041520] scsi 12:0:0:0: rejecting I/O to offline device
[2049068.041974] scsi 12:0:0:0: [sdm] killing request
[2049068.042017] scsi 12:0:0:0: [sdm]
[2049068.042018] Result: hostbyte=DID_NO_CONNECT driverbyte=DRIVER_OK
[2049068.042018] scsi 12:0:0:0: [sdm] CDB:
[2049068.042019] Read(10): 28 00 00 44 3f c0 00 00 f0 00
[2049068.042022] end_request: I/O error, dev sdm, sector 4472768
[2049068.056652] xhci_hcd 0000:00:14.0: xHCI xhci_drop_endpoint called with disabled ep ffff8801781c3c80
[2049068.056654] xhci_hcd 0000:00:14.0: xHCI xhci_drop_endpoint called with disabled ep ffff8801781c3cc0
[2049068.168511] usb 3-5: new high-speed USB device number 17 using xhci_hcd
[2049068.259417] usb 3-5: New USB device found, idVendor=152d, idProduct=2329
[2049068.259420] usb 3-5: New USB device strings: Mfr=1, Product=2, SerialNumber=5
[2049068.259421] usb 3-5: Product: USB to ATA/ATAPI bridge
[2049068.259422] usb 3-5: Manufacturer: JMicron
[2049068.259423] usb 3-5: SerialNumber: 201602270003
[2049068.291104] usb-storage 3-5:1.0: USB Mass Storage device detected
[2049068.291152] usb-storage 3-5:1.0: Quirks match for vid 152d pid 2329: 8020
[2049068.291179] scsi13 : usb-storage 3-5:1.0
[2049069.322875] scsi 13:0:0:0: Direct-Access     KingDian  S200 60GB       2015 PQ: 0 ANSI: 2 CCS
[2049069.323058] sd 13:0:0:0: Attached scsi generic sg12 type 0
[2049069.384321] sd 13:0:0:0: [sdm] 117231408 512-byte logical blocks: (60.0 GB/55.8 GiB)
[2049069.384601] sd 13:0:0:0: [sdm] Write Protect is off
[2049069.384603] sd 13:0:0:0: [sdm] Mode Sense: 28 00 00 00
[2049069.384868] sd 13:0:0:0: [sdm] No Caching mode page found
[2049069.385353] sd 13:0:0:0: [sdm] Assuming drive cache: write through
[2049069.386764] sd 13:0:0:0: [sdm] No Caching mode page found
[2049069.387311] sd 13:0:0:0: [sdm] Assuming drive cache: write through
[2049069.396568]  sdm: unknown partition table
[2049069.397466] sd 13:0:0:0: [sdm] No Caching mode page found
[2049069.398067] sd 13:0:0:0: [sdm] Assuming drive cache: write through
[2049069.398513] sd 13:0:0:0: [sdm] Attached SCSI disk

Zurück zu Amazon geht es wohl. Ich denke, ich werde sehen, ob ich den anderen davon überzeugen kann, ebenfalls zu scheitern, bevor ich ihn zurückgebe.

Bearbeiten Bearbeiten Bearbeiten Bearbeiten:

Ja, das zweite Laufwerk hat sich gerade selbst beschissen, als es auf genau dieselbe Weise getestet wurde. Hoppla?

integrated-circuit Connor Wolf
quelle
3
Das ist wirklich interessant - könnten sie die Vorverpackung der Matrize nicht testen, um kein Geld für die Verpackung einer kaputten Matrize zu verschwenden? Ich denke, wenn sie dieses Setup nicht haben, ist es vielleicht nach dem Verpacken + Testen markiert, um die Nichtkonformität zu kennzeichnen, und entkommt dann dem "grauen" Markt - neugierig, was die Antwort ist.
Krunal Desai
Es ist möglich, dass beim Siebdruckvorgang ein Problem aufgetreten ist. In diesem Fall werden sie wahrscheinlich auch dann zurückgewiesen, wenn der Würfel vollkommen in Ordnung ist. Haben Sie aus Neugier die SSD getestet, irgendwelche schlechten Sektoren?
Tom Carpenter
1
@TomCarpenter Sieht eher nach Lasermarkierungen als nach siebgedruckten Markierungen aus. Erinnert mich an die gefälschten chinesischen USB-Laufwerke, die eine große verfügbare Kapazität melden, bis Sie tatsächlich versuchen, mehr als 2 G oder was auch immer zu speichern und abzurufen - der Controller-Chip wurde gefummelt.
Spehro Pefhany
4
Vielleicht tun sie das, um davon abzuhalten, die Chips zu ernten, um sie selbst zu verkaufen.
Tokamak
1
Da beide Blitzlichttypen vom selben Hersteller (oder einer Tochtergesellschaft davon) stammen, wurden sie wahrscheinlich im selben Werk hergestellt (und am selben Ort verpackt). Selbst wenn es sich um unterschiedliche ICs handelt, ist es durchaus möglich, dass sie mit den gleichen Markierungen zurückgewiesen werden. Tatsächlich scheint das Vorhandensein von zwei völlig unterschiedlichen Flash-ICs im selben Produkt eine Haltung nahe zu legen, bei der "wir alles verwenden, was wir in die Finger bekommen können", was die Verwendung von Ausschuss sicher nicht ausschließt.
Tom Carpenter

Antworten:

19

Ich schickte eine E-Mail an Ted Netz, den NAND-Flash-Produktmanager bei SpecTek. Hier ist, was er zu sagen hatte (mit ein paar kleinen Grammatik- und Formatierungskorrekturen):

Hallo Adam,

Wir kennzeichnen Produkte auf diese Weise. Es ist eine Art von Teil, das wir verkaufen, das möglicherweise einen mechanischen Defekt aufweist, das jedoch häufig elektrisch gut getestet wird. Wir verkaufen es als Risikoprodukt, wie es ist, mit einem Rabatt und machen eine 3-bar-Verunstaltung, so dass es nicht als All-Good-Gerät für RMA zurückgegeben werden kann. Der mechanische Defekt lässt es normalerweise nicht zu, dass unsere automatisierten Scan-Schritte ausgeführt werden. Normalerweise scheitert es an der Koplanarität oder es könnte einen fehlenden oder zerschlagenen Ball geben. Die Leute sind bereit, das Teil zu überarbeiten und es erneut zu testen. In der Regel empfehlen wir Kunden jedoch, diese Geräte nur auf USB-Apps oder Apps niedrigerer Stufe zu beschränken, da diese möglicherweise nicht alle Leistungsstandards erfüllen. Außerdem können wir den Nachbesserungsprozess des Kunden nicht steuern, sodass wir für ein solches Gerät keine Garantie übernehmen.

Es gibt jedoch eine andere seltsame Sache auf diesen. Die Sonderzeichen H16 62 sind nicht Bestandteil unseres Kennzeichnungsschemas. Wir haben die Marke Micron und / oder SpecTek auf diese Weise fälschen lassen, um die Teile als SpecTek-Original weiterzugeben. Das seltsame an mir ist auch der Schreiber neben der Markierung für die Stecknadel. Auf dem mit SpecTek gekennzeichneten Laufwerk unterscheidet sich die Schriftart in 3 der Marken, die nicht wie typische Micron Scribe-Schriftarten aussehen. Hoffe jedenfalls das hilft.

Thx - Ted

Die drei Balken sind daher eine legitime Kennzeichnung für risikoreiche, nicht unter die Garantie fallende Blitzgeräte mit mechanischen Fehlern. Kunden sollen die Chips selbst überarbeiten und testen. Aufgrund der zusätzlichen Markierungen scheinen die Chips in Ihrem Laufwerk jedoch möglicherweise gefälscht zu sein. Vielleicht ist es einfacher, mit der Fälschung eines Produkts von geringerer Qualität davonzukommen.

Adam Haun
quelle
3
Das ist faszinierend. Vielen Dank, dass Sie sich dafür eingesetzt haben!
Connor Wolf
1
Die zusätzlichen Markierungen wurden möglicherweise von dem Dritten hinzugefügt, der die Teile überarbeitet und getestet hat. Wie in sind sie ihre QA-Codes. Sie sehen aus, als ob sie über einen anderen Mechanismus angewendet wurden.
John Meacham
@ JohnMeacham Aufgrund des Ausfalls beider Laufwerke bin ich skeptisch, dass Tests durchgeführt wurden. Aber ich bin damit einverstanden, dass ein Dritter wahrscheinlich die zusätzlichen Zeichen hinzugefügt hat.
Adam Haun
@AdamHaun - Wenn man bedenkt, dass sie anscheinend auf die gleiche Weise versagt haben, denke ich, dass fehlerhafte Firmware wahrscheinlicher ist als schlechtes Flash, aber das ist nur eine Vermutung.
Connor Wolf
@ConnorWolf Vielleicht. Die Firmware lässt sich jedoch leicht kopieren, und der Controller verfügt über eine Silicon Motion-Teilenummer. Sie scheinen ein legitimes Unternehmen zu sein. Ich würde überrascht sein , wenn ihre Firmware sind , dass Buggy. Andererseits gefälschte Firmware von Drittanbietern ...
Adam Haun
-1

Möglicherweise sind die Chips gut, aber es gab einen Fehler in der Maschine, die die Markierungen auf den Chips gedruckt hat. Aber sie wurden immer noch verkauft und benutzt.

Ich habe in einigen Geräten Chips gesehen, bei denen die Markierungen auf irgendeine Weise entfernt wurden, um den IC nicht identifizierbar zu machen. Ich vermute, dies ist ein Versuch, das Kopieren der Schaltung durch billige Abzocke-Hersteller zu verhindern. (Und Bastler wie ich.)

Frank B
quelle
2
Wir haben den ersten Punkt in den Kommentaren besprochen, der jedoch unwahrscheinlich erscheint. Erstens handelt es sich um Lasermarkierungen, auf die das OP und andere hingewiesen haben, und zweitens stimmen die Linien nicht mit den ursprünglichen Markierungen überein, was darauf hindeutet, dass dies nach der Herstellung erfolgt. Der zweite Punkt wurde ebenfalls in den Kommentaren erwähnt, aber wenn dies der Fall ist, hat derjenige, der es getan hat, einen sehr schlechten Job gemacht.
Tom Carpenter